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杭州高裕電子科技股份有限公司

產(chǎn)品展示

Product Demonstration

Product Demonstration

產(chǎn)品展示

分立器件綜合老化測(cè)試系統(tǒng)

符合標(biāo)準(zhǔn):

MIL-STD-750D、GJB128等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。

適用范圍:

適用于各種封裝形式的中、小功率二極管、三極管、場(chǎng)效應(yīng)管、可控硅、集成穩(wěn)壓器、光電耦合器、電阻等等元器件的穩(wěn)態(tài)壽命試驗(yàn)(CFOL)和間歇壽命試驗(yàn)(IFOL)。

技術(shù)特點(diǎn):

適用范圍廣,可滿(mǎn)足多種分立元器件的常溫壽命老化。

具有手動(dòng)、自動(dòng)加電模式。


技術(shù)性能

表格 p13.png