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杭州高裕電子科技股份有限公司

產(chǎn)品展示

Product Demonstration

Product Demonstration

產(chǎn)品展示

分立器件間歇壽命老化測(cè)試系統(tǒng)

符合標(biāo)準(zhǔn):

AEC-Q101、MIL-STD-750D、GJB128等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。

適用范圍:

適合各種封裝形式的場(chǎng)效應(yīng)管、IGBT單管、二極管、三極管間歇壽命試驗(yàn)。

技術(shù)特點(diǎn):

更換測(cè)試母板,可以滿足不同的試驗(yàn)電路、不同的器件試驗(yàn)。

每個(gè)回路加熱電流IH、測(cè)試電路Im獨(dú)立程序控制。

監(jiān)控每顆器件的△TJ或者TJ。

可兼容穩(wěn)態(tài)壽命和間歇壽命試驗(yàn)。


技術(shù)性能

表格 p31.png